Просвечивающая электронная микроскопия наночастиц (ПЭМ) — важный метод микроскопии, широко используемый для наблюдения и характеристики структуры и морфологии наноразмерных частиц и материалов.
ПЭМ использует пучки высокоэнергетических электронов для наблюдения микроскопических деталей образца через тонкие срезы. В ПЭМ электронный луч фокусируется через систему линз, а затем проходит через образец, взаимодействуя с атомами или молекулами в образце. Собирая информацию о прошедшем электронном пучке, можно получить изображения и дифракционные картины образца с высоким разрешением, тем самым раскрывая его внутреннюю структуру и состав.
Ниже приведены общие этапы использования TEM для тестирования образцов:
1. Подготовка образца. Во-первых, необходимо подготовить образец для испытания на достаточно тонких срезах. Общие методы подготовки включают механическое нарезку, ионное измельчение, центробежное осаждение и резку сфокусированным ионным лучом (FIB).
2. Загрузка образца. Поместите подготовленные ломтики образцов на носитель образцов TEM и обеспечьте их фиксацию и стабильность.
3. Настройки прибора: установите такие параметры, как ускоряющее напряжение, фокусировка и функции выравнивания, необходимые для ТЭМ. Обычно для получения необходимой информации об изображении необходимо выбрать соответствующие настройки и режимы объектива.
4. Observation and adjustment: Insert the sample holder into the TEM instrument and observe the sample using an eyepiece or microscope. Under appropriate magnification, observe whether the morphology and structure of the sample meet the requirements, and adjust and optimize as needed.
5. Захват изображения: выберите соответствующие настройки объектива и время экспозиции, чтобы получить изображения образца с высоким разрешением с помощью системы TEM. Для получения более полной информации можно собирать изображения из разных регионов и ракурсов.
6. Анализ данных: анализируйте и интерпретируйте изображения TEM, включая измерение размера частиц, морфологии поверхности, кристаллической структуры и т. д. Соответствующий анализ энергетического спектра и анализ дифракционной картины также могут быть проведены для получения информации об элементном составе и кристаллической структуре.
ПЭМ — это метод микроскопии высокого разрешения, обычно используемый для изучения наночастиц, наноматериалов, наноструктур и многого другого. Он может обеспечить детальное наблюдение и анализ на наноуровне, играя важную роль в понимании структурных свойств материалов, морфологии и состава наночастиц, а также изучении наномасштабных явлений.
