Обычно используемые приборы обнаружения для анализа составананоматериалывключать:
1. ICP (индуктивно-связанная плазма): ICP — это технология, широко используемая в области аналитической химии и материаловедения. Его можно использовать для определения содержания и состава элементов в наноматериалах. Путем преобразования образца в газообразные ионы и использования созданного спектра плазмы для определения концентрации элементов. ICP-MS (масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой) сочетает в себе методы ICP и масс-спектрометрии для анализа чрезвычайно низких концентраций элементов в наноматериалах.
2. XRF (рентгеновская флюороскопия): XRF — широко используемая технология анализа материалов и неразрушающего контроля. Он определяет состав элементов путем облучения поверхности или внутренней части образца рентгеновскими лучами и измерения флуоресцентного излучения характеристик элементов в образце. РФА подходит для целого ряда наноматериалов, включая твердые, жидкие и порошкообразные образцы.
3. EDS (энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия): EDS — это метод электронной микроскопии, который определяет состав элементов в образце путем измерения рентгеновских лучей, генерируемых в результате взаимодействия электронного луча с образцом в материале. EDS часто используется в сочетании со сканирующей электронной микроскопией (SEM) для анализа состава поверхности наноматериалов.
