Наночастицы широко используются в различных областях, таких как доставка лекарств, визуализация и материаловедение. Покрытия на поверхности наночастиц могут влиять на их свойства и характеристики. Поэтому важно измерять толщину покрытий, чтобы понять их влияние на наночастицы. В этом сообщении блога мы представим несколько методов измерения толщины покрытий наночастиц.
1. Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ).
ПЭМ — это мощный метод визуализации, который позволяет получать изображения наночастиц с высоким разрешением. Его также можно использовать для измерения толщины покрытий наночастиц. ПЭМ работает путем пропускания пучка электронов через образец, а взаимодействие между электронами и образцом можно использовать для создания изображения. Используя ПЭМ, контраст между покрытиями и наночастицами можно использовать для измерения толщины покрытий.
2. Атомно-силовая микроскопия (АСМ).
АСМ — еще один метод визуализации, который можно использовать для измерения толщины покрытий наночастиц. Он работает путем сканирования поверхности образца крошечным зондом. Зонд может с высокой точностью измерять высоту образца, что можно использовать для расчета толщины покрытия наночастиц. АСМ может обеспечивать изображения высокого разрешения и подходит для измерения толщины покрытий на одной наночастице.
3. Ультрафиолетово-видимая (УФ-Вид) спектроскопия.
УФ-Вид-спектроскопия — это метод, который можно использовать для одновременного измерения толщины покрытий на большом количестве наночастиц. Он работает путем измерения спектров поглощения наночастиц в растворе. Покрытия на наночастицах могут влиять на спектры поглощения, а толщину покрытий можно рассчитать на основе степени спектрального сдвига. УФ-Вид-спектроскопия — быстрый и простой метод измерения толщины покрытий наночастиц.
4. Кварцево-кристаллические микровесы (ККМ).
ККМ — высокочувствительный метод, который можно использовать для измерения массы наночастиц. Измеряя изменение массы наночастиц с покрытием и без него, можно рассчитать толщину покрытий. QCM может обеспечить мониторинг толщины покрытий в реальном времени и подходит для изучения стабильности и кинетики покрытий на наночастицах.
В заключение отметим, что существует несколько методов измерения толщины покрытий наночастиц, каждый из которых имеет свои преимущества и ограничения. Выбор метода зависит от конкретных требований приложения. Понимая толщину покрытий наночастиц, мы можем проектировать и оптимизировать их свойства и функции для различных применений.
